KPM Analytics

MCT-560 mikroprocessor

Mätpunktsstyrning för flerkanals NIR-system i pappersbruk och processindustri, koordinerar upp till sexton mätpunkter med en gemensam controller.

• Online-process
• Massa & papper

• Centralisera flera NIR-mätare på samma processlinje
• Trendvisualisering och larm för processoperatörer
• Datalagring för retroaktiv kvalitetsuppföljning
• Integration mot DCS via OPC UA / Modbus

Antal mätpunkter	Upp till 16 NIR-/process-givare
Kommunikation	OPC UA, Modbus TCP, OPC DA
Användargränssnitt	Inbyggd webbserver, ingen klient krävs
Datalagring	Lokal trend-databas, exportbar (CSV/SQL)
Larmhantering	Konfigurerbara nivåer per mätpunkt
Drifttemperatur	0 – 50 °C
Kraftförsörjning	100 – 240 V AC, 50/60 Hz

MCT-560 är processorn som binder ihop NIR-givare, ljushets- och Kappa-mätare till ett enhetligt mätsystem mot pappersbrukets DCS. Varje mätpunkt kan konfigureras med egna kalibreringsmodeller och larmgränser.

Inbyggd webbserver ger drifttekniker tillgång till trendkurvor, larm och kalibreringshistorik utan dedikerad PC. OPC UA-anslutning gör integrationen mot bruksövergripande styrsystem rakt fram.

• Produktsida MCT560 (KPM Analytics)Öppnar i ny flik ↗

Online-processinstrument är produktionskritiska — driftstopp eller drift i mätvärde påverkar direkt utbyte och kvalitet. Våra KPM Analytics-tekniker servar MCT-560 mikroprocessor på plats med minimerat avbrott.

• Förebyggande service planerad i samband med revisioner och driftstopp.
• Originaldelar: sensorer, pumpar, fiber, optik, kalibreringsmoduler.
• Fjärrsupport och datadiagnostik mellan platsbesök för snabb avhjälpning.

Om vår service

Inköpsguide från Labsense

Välja rätt elementanalys: 5 råd

Elementanalys, ICP eller dedikerad kvicksilveranalys (NIC)? Element, halter och provtyp styr tekniken.